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MOS管和IGBT模块的测试方法

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时间 : 2019-01-15 21:00 浏览量 : 266

IGBT

IGBT(绝缘栅双极晶体管)绝缘栅双极晶体管是由BJT(双极晶体管)和MOS(绝缘栅场效应晶体管)组成的复合完全控制电压驱动功率半导体器件,其具有两个MOSFET。 GTR的高输入阻抗和低导通电压降的优点。 GTR饱和电压降低,载流密度大,但驱动电流大; MOSFET驱动功率小,开关速度快,但导通电压降大,且载流密度小。 IGBT结合了上述两种器件的优点,具有低驱动功率和降低的饱和电压。适用于直流电压为600V及以上的转换器系统,如交流电机、逆变器、开关电源、照明电路、牵引驱动和其他领域。

igbt



MOSFET测试方法:


如果知道FET的类型和针脚,用万用表测量G(栅极)和S(源)之间没有PN结电阻,G和D(漏极)之间没有PN结电阻,表明管损坏。万用表的R*1KOH档分别与场效应管的S极和D极相连,表面棒用手接触管极和G极。如果针不动,管子就不好;如果针比较大。振荡表明管道可用。


另外:1.结型场效应晶体管与绝缘栅型场效应晶体管的区别


(1)区分包装


由于绝缘栅场效应管的栅极易被击穿和损坏,插脚通常短路或用金属箔包裹,而结场效应管在包装上没有特殊要求。


(2)测量指针式万用表的电阻。


用万用表的“R*LK”或“R*100”档测量G、S脚之间的电阻和N结的正负电阻。管子是节管。


2。用万用表电阻鉴别结场效应管脚


一般采用R*1K或R*100档进行测量。当选择两个管脚时,正确和反向电阻相同(均为数千欧元),两个电极为D和S电极(在使用中可互换),其余电极相同。


由于绝缘栅场效应管在测量中容易损坏,一般建议在不使用该方法识别管脚的情况下查阅手册。


检测IGBT模块好坏的简单方法:


1。要判断极性,首先将万用表设置在R*1K,用万用表测量时,如果一个极和另一个极的电阻为无穷大,更换表笔后,极和另一个极的电阻仍为无穷大,则判断极的栅极(G)。其他两极用万用表测量。如果测得的电阻为无穷大,则更换笔后测得的电阻很小。当电阻较小时,判断红色表笔连接为集电极(C),黑色表笔连接为发射极(E)。


2。判断是好是坏,将万用表置于R*10kQ档,用黑笔连接IGBT的集电极(C),用红笔连接IGBT的正时杆(E)。此时万用表指针为零。同时用手指触摸下栅极(G)和集电极(C),触发并打开手动GBT。万用表指针向电阻较小的方向摆动,可由站在某一位置指示。然后用手指同时触摸栅极(G)和发射极(E),然后IGBT被阻断,万用表指针回到零位。此时,可以判断IGBT是好的。


三。请注意,任何指针式万用表电铃都可以用来检测IGBT。在判断IGBT的质量时,必须将万用表置于R*IOK块中。由于R*ikq以下的万用表内部电池电压过低,检测到质量时无法打开IGBT,无法判断IGBT的质量。该方法也可用于功率场效应晶体管(P-MOSFET)的质量检测。


以两个单位为例:模拟万用表测量


静态测量:将万用表置于倍率100,测量黑色表笔连接1个端子,红色表笔连接2个端子,显示电阻应无穷大;


显示器的阻力应该在400欧元左右。同样,黑色表笔连接3个端子,红色表笔连接1个端子。


显示电阻应为无穷大,调整笔时,显示电阻应约为400欧姆。如果上述情况得到满足,则表明IGBT的两个单元没有明显的故障。


动态测试:万用表档位在10公里,用黑笔连接4个端子,用红笔连接5个端子,用红笔连接3个端子,用黑笔连接1个端子。此时电阻应为300-400拍,调整笔的电阻也有300-400拍左右,说明IGBT单元是完美的。


用同样的方法对1号和2号端子之间的IGBT进行测试,如果满足上述条件,则表明IGBT也完好无损。


将万用表置于R*10K块内,用黑笔接IGBT的漏极(D),用红笔接IGBT的源。此时,万用表指针指向无穷远。当手指同时接触栅极(G)和漏极(D)时,IGBT被触发并打开。万用表指针向电阻较小的方向摆动,能在一定的位置上站立和指示。然后用手指同时触摸源极和栅极,然后IGBT被阻断,万用表指针返回无穷远。此时,可以判断IGBT是好的。


MOS管和IGBT模块的测试方法


igbt模块测量注意事项:


1。为了便于测量,直接从驱动板上拔出C、G、E。


2。进入第二次测量时,发射极(E)和栅极(G)应短接。


三。如果用指针式万用表判断IGBT是好是坏,则必须将万用表设置在R*10K块内。由于R*1K块以下的万用表内部电池电压太低,测试好坏时无法打开IGBT,无法判断IGBT好坏。


4。使用指针式万用表时,黑色表笔对应电源正极,红色表笔对应负极。因此,在测量IGBT时,测量端与数字表相对。


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